Kelvin Probe Force Microscopy

- Measuring and Compensating Electrostatic Forces

Forfatter: info mangler
  • Format
  • E-bog, PDF
  • Engelsk
E-bogen er DRM-beskyttet og kræver et særligt læseprogram

Beskrivelse

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.

Læs hele beskrivelsen
Detaljer

Findes i disse kategorier...

Se andre, der handler om...

Velkommen til Saxo – din danske boghandel

Hos os kan du handle som gæst, Saxo-bruger eller Saxo-medlem – du bestemmer selv. Skulle du få brug for hjælp, sidder vores kundeservice-team klar ved både telefonerne og tasterne.

Om medlemspriser hos Saxo

For at købe bøger til medlemspris skal du være medlem af Saxo Premium, Saxo Shopping eller Saxo Ung. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer. Medlemskabet fornyes automatisk og kan altid opsiges. Læs mere om fordelene ved vores forskellige medlemskaber her.

Machine Name: SAXO081