Favoritter
    Log ind Opret dig
    Electron and Ion Microscopy and Microanalysis

    Electron and Ion Microscopy and Microanalysis

    - Principles and Applications, Second Edition,

    Forfatter: info mangler
    Bog
    • Format
    • Bog, hardback
    • Engelsk
    • 856 sider

    Beskrivelse

    The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

    Læs hele beskrivelsen
    Detaljer
    • SprogEngelsk
    • Sidetal856
    • Udgivelsesdato25-07-1991
    • ISBN139780824785567
    • Forlag CRC Press Inc
    • FormatHardback
    • Udgave2
    Størrelse og vægt
  • Vægt1587 g
    • coffee cup img
    10 cm
    book img
    17,8 cm
    25,4 cm

    Findes i disse kategorier...

    Se andre, der handler om...

    Field emission Thin section Grain Boundary Wave function TEM Thin film Saed CBED Pattern Backscattered Electrons Dark Field Images Ewald Sphere Electron Diffraction Patterns Electron Optical System HVEM Ion Optics Field Ion Microscope High Voltage Electron Reciprocal Lattice Points Kikuchi Diffraction Pattern Selected Area Electron Diffraction Pattern Thin Stainless Steel Foils Stacking Fault Unit Cell Kikuchi Lines Partial Disloca Tions

    Velkommen til Saxo – din danske boghandel

    Hos os kan du handle som gæst, Saxo-bruger eller Saxo-medlem – du bestemmer selv. Skulle du få brug for hjælp, sidder vores kundeservice-team klar ved både telefonerne og tasterne.

    Om medlemspriser hos Saxo

    For at købe bøger til medlemspris skal du være medlem af Saxo Premium, Saxo Shopping eller Saxo Ung. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer. Medlemskabet fornyes automatisk og kan altid opsiges. Læs mere om fordelene ved vores forskellige medlemskaber her.

    Machine Name: SAXO080