Studiebog
    VLSI Design and Test

    VLSI Design and Test

    - 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

    Forfatter: info mangler
    Bog
    • Format
    • Bog, paperback
    • Engelsk

    Beskrivelse

    This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.

    Læs hele beskrivelsen
    Detaljer
    Størrelse og vægt
    coffee cup img
    10 cm
    book img
    15,5 cm
    23,5 cm

    Findes i disse kategorier...

    Se andre, der handler om...

    Digital circuits VLSI Multi-processor architectures Network on Chip SRAM arrays

    Velkommen til Saxo – din danske boghandel

    Hos os kan du handle som gæst, Saxo-bruger eller Saxo-medlem – du bestemmer selv. Skulle du få brug for hjælp, sidder vores kundeservice-team klar ved både telefonerne og tasterne.

    Om medlemspriser hos Saxo

    For at købe bøger til medlemspris skal du være medlem af Saxo Premium, Saxo Shopping eller Saxo Ung. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer. Medlemskabet fornyes automatisk og kan altid opsiges. Læs mere om fordelene ved vores forskellige medlemskaber her.

    Machine Name: SAXO080