Læs og lyt til tusindvis af e- og lydbøger med Saxo Premium Stream e- og lydbøger Prøv gratis

Noncontact Atomic Force Microscopy

Du sparer 13% Du sparer 13%
Noncontact Atomic Force Microscopy
  • kr. 2.599,95
  • Leveringstid 5-7 hverdage
  • Forventet levering 02-10-2018
  • 13%
Bog, hæftet (kr. 2.269,95) (kr. 2.269,95)
  1. Beskrivelse

    Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

  2. Yderligere info
    Udgivelsesdato:
    01-10-2012
    Sprog:
    Engelsk
    ISBN13:
    9783642627729
    Sidetal:
    460
    Vægt:
    640 g
    Dybde:
    24 mm
    Bredde:
    156 mm
    Højde:
    234 mm
    Forlag:
    Springer
    Mærkat:
    Bog, hæftet
    Format:
    Hæftet
  3. Anmeldelser

Fandt du ikke hvad du søgte?

Hvis denne bog ikke er noget for dig, kan du benytte kategorierne nedenfor til at finde andre titler. Klik på en kategori for at se lignende bøger.