Microscopy of Semiconducting Materials

- Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK

indgår i serie SPRINGER PROCEEDINGS IN PHYSICS


Microscopy of Semiconducting Materials
Du sparer Spar kr. 99,26 med Shopping-fordele
  • Leveringstid Straks (sendes på e-mail)
For at købe bogen til fordelspris skal du have et medlemskab med Shopping-fordele.
Du kan prøve medlemskabet gratis i 30 dage. Medlemskabet fornyes automatisk og kan altid opsiges.
Format:
E-bog, PDF
Udgivelsesdato:
25-08-2006
Sprog:
Engelsk
  • Beskrivelse
  • Yderligere info
  • Anmeldelser

The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.

Vis mereVis mindre

Udgivelsesdato:
25-08-2006
ISBN13:
9783540319153
Forlag:
Springer
Format:
PDF
Forfattere

    Vis mereVis mindre

    Vis mereVis mindre

    Fandt du ikke hvad du søgte?

    Hvis denne bog ikke er noget for dig, kan du benytte kategorierne nedenfor til at finde andre titler. Klik på en kategori for at se lignende bøger.

    Velkommen til Saxo – din danske boghandel!

    Hos os kan du handle som gæst, Saxo-bruger eller Premium-medlem – du bestemmer helt selv. Skulle du få brug for hjælp, sidder vores kundeservice-team klar ved både telefonerne og tasterne.

    Om fordelspriser hos Saxo

    For at købe bøger til fordelspris, skal du være medlem af Premium, Premium Shopping eller Premium Studie. De første 30 dage er gratis for nye medlemmer. Medlemskabet fornyes automatisk og kan altid opsiges. Læs mere om fordelene ved vores forskellige medlemskaber her.

    Machine Name: SAXO082