Atomic Force Microscopy-Based Electrical Characterization of Materials

af


Atomic Force Microscopy-Based Electrical Characterization of Materials
  • Leveringstid 5-8 hverdage
  • Forventet levering 21-11-2019
Format:
Bog, hardback
Udgivelsesdato:
22-06-2019
Sprog:
Engelsk
  • Beskrivelse
  • Yderligere info
  • Anmeldelser

This timely book introduces the fundamental measurement concepts of the rapidly evolving atomic force microscopy (AFM) techniques for electrical characterization (EFM). It describes experimental approaches and setups, as well as challenges to overcome, and it also provides a wide range of real-world examples illustrating the method. This comprehensive guide for EFM techniques and their applications is an excellent reference for those working on microscopy in different fields, making the methods more accessible to a wider audience and enabling readers to explore the numerous possibilities of electrical techniques as research tools.

Vis mereVis mindre

Udgivelsesdato:
22-06-2019
ISBN13:
9781439882993
Bredde:
156 mm
Højde:
235 mm
Format:
Hardback
  • Forfattere

  • Bibliotekernes beskrivelse

    110 Illustrations, black and white

Vis mereVis mindre

Vis mereVis mindre

Fandt du ikke hvad du søgte?

Hvis denne bog ikke er noget for dig, kan du benytte kategorierne nedenfor til at finde andre titler. Klik på en kategori for at se lignende bøger.

Velkommen til Saxo - din danske boghandel!

Hos os kan du handle som Gæst, Saxo-bruger eller Saxo Premium-medlem. Du bestemmer selv, og vores kundeservice sidder altid klar med hjælp.

Om medlemspriser hos Saxo

Hvis du køber til medlemspris, bliver du automatisk medlem og får del i de mange fede fordele. De første 30 dage er gratis for nye brugere, og derefter koster det kun 99,-/md. Medlemskabet fornyes automatisk, og du kan altid opsige det. Læs mere om fordelene ved Saxo Premium her.